综合概述
GY8220融合了奥谱天成的光谱技术与精密的光学系统，专为多角度光谱测量需求而设计。通过高精度电动旋转臂，GY8220能够精确操控光路360°空间旋转，搭配高信噪比的光谱仪，支持绝对光谱效率检测。
GY8220可用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射等光谱，它采用智能化的自动旋转设计，分别调节入射和出射方向，实现对待测样品不同角度的光谱测量，测量模式有：上反射、下反射、透射、散射、辐射、自由模式和编程模式,旨在为用户提供更多维度、更宽波段的高精度光谱分析体验，满足微纳光学、光子晶体、超导材料、发光材料等各领域的应用需求。
产品特征
全角度采集采用智能旋转设计，支持0-360°测量
多种模式支持7种光谱测量模式
宽谱范围支持宽光谱范围检测
支持扩展可以外接激光器等光源
多维控制样品支持多方式多维度调整
数据分析专有软件可实现自动化光谱采集、数据分析与光谱显示
二次开发提供开发工具包，封装所有功能，一处添加，多处调用
应用领域
光学薄膜
光子晶体
纳米材料
液体材料
结构色
发光材料
光栅
