CIOE 2026直击 - 国产OSA能否替代进口？奥谱天成在深圳光博会现场给出答案
2026-09-09 14:39:59
奥谱天成
第27届中国国际光电博览会（CIOE 2026）今日在深圳国际会展中心正式拉开帷幕。作为全球光电产业的风向标，本届博览会汇聚了来自激光、光通信、先进制造等领域的顶尖企业与专家学者，共同探讨前沿技术与产业升级路径。
在展会期间举办的“激光微纳加工先进制造论坛”上，奥谱天成董事长刘鸿飞博士受邀发表了题为《光谱分析仪（OSA）的国产替代与应用》的专题演讲，从产业需求、技术壁垒到国产化实践，分享了奥谱天成在推动关键光学检测设备自主可控方面的思考与实践。
光电产业越向前，高端测量工具越关键
激光、光通信、半导体等产业的发展，对光谱分析能力提出了越来越高的要求。 激光器需要精准测量波长、线宽、功率谱等关键参数；光通信领域需要对DWDM、OSNR、EDFA等进行高精度测试；半导体与新材料研发同样离不开精密的光谱表征。 光谱仪器是激光与光通信领域的核心基础设施。 但高端光谱仪器长期存在进口依赖。刘鸿飞博士在演讲中指出，高端光谱仪器的国产化并非简单的产品替代，而是对核心光学器件、精密制造、算法软件、行业生态以及市场应用等综合能力的考验。 这也意味着，国产OSA真正需要突破的，不只是“有没有”，而是能不能达到高端水平，并真正进入产业核心应用。 ATM6370 回应高端光谱分析需求
奥谱天成致力于为光电产业链提供高性能、高可靠性的本土化测试解决方案。完全自主研发的 ATM6370超高分辨率光谱分析仪(OSA)，汇集了奥谱天成在光路设计、精密制造与算法开发上的技术积累，为激光微纳加工、光通信及高端科研提供了强有力的检测支撑。
卓越的光学性能 超高分辨率：采用双光栅双通光路架构与高密度刻线全息闪耀光栅，最高波长分辨率可达0.02 nm 高动态范围与超低杂散光：实现 78 dB的动态范围与低至 -90 dBm的功率灵敏度 全波段与高国产化率：光谱覆盖300nm–5500nm，核心光学结构与控制芯片国产化率达 95%，保障了供应链的安全与稳定
智能化交互与高效系统集成 现代工业级交互：配备 14 寸高清触控屏，基于 Android操作系统开发，提供直观便捷的操作界面与数据呈现 内置专业分析算法：集成 DWDM (OSNR)、EDFA、DFB-LD/FP-LD光源测试等套件，并内置自动波长校准功能 多元接口支持：提供 LAN、WIFI、USB等标准化通信接口，便于快速接入自动化测试产线与实验室数据管理系统 赋能多领域应用，助力产业高质量发展 ATM6370光谱分析仪（OSA）凭借超高分辨率、高动态范围以及广覆盖的光谱响应，为多个前沿领域提供了精准的光谱分析支持： 激光器研发与微纳加工制造 精确测量半导体激光器（如 DFB-LD、FP-LD）及各类脉冲/连续激光器的中心波长、边模抑制比（SMSR）、光谱线宽与功率稳定性，为激光器件的研发、封装测试及加工质量控制提供关键参数依据 光通信系统与无源/有源器件测试 内置 DWDM（OSNR）、EDFA 等专业测试套件，可高效用于密集波分复用系统的信道性能评估、光放大器增益与噪声指数测量，以及光纤滤波器、阵列波导光栅（AWG）等无源器件的传输特性测试 前沿光谱科研与环境气体监测 结合 300 nm – 5500 nm 的宽波段扩展能力，适用于光纤传感（FBG/分布式传感）信号解调、非线性光学研究，以及温室气体的高灵敏度吸收光谱分析
▲ATM6370的光谱分辨率测试，结果标明：仪器分辨率0.02nm
▲ATM6370实测光谱图：高动态 ·低噪声
从替代进口到自主突破，奥谱天成正在做什么
一台高端仪器的价值，不仅限于参数上的领先，更在于能否为光电产业筑牢自主可靠的检测基石。 从十余年深耕光谱，到布局高端光谱分析领域，奥谱天成将自身的光谱技术积累延伸至更多光电产业核心应用。CIOE 2026 现场，刘鸿飞博士的专题报告洞察行业痛点，ATM6370超高分辨率光谱分析仪（OSA）则以硬核产品力回应市场期待。 从国产替代到高端突破，从精准测量到深度分析，奥谱天成为光电产业提供更多国产高端测试仪器选择。 9月9日—11日，深圳国际会展中心4号馆C031 欢迎莅临奥谱天成展位，现场了解ATM6370超高分辨率光谱分析仪（OSA），共探高端光谱仪器国产化新方向。
